2024年3月28日，清华大学于荣教授应邀访问重庆大学材料学院，并于A区综合实验大楼603会议室作题为“超分辨叠层成像与层析成像”的主题报告。会议由符潇潇副教授主持，学院及课题组20余名师生到场参加报告会。

报告中，于荣教授介绍电子显微学与大数据的结合日益成为材料结构解析领域中新的研究范式，典型代表即是基于四维扫描透射电镜数据的叠层成像(ptychography)和基于系列倾转电镜图像的层析成像(tomography)。于荣教授表示电子叠层成像具有高深度分辨、高剂量效率、高相位精度等特点，有助于解决像差校正电镜分析中取向偏离、表面损伤、辐照损伤等痛点。于教授着重展示了课题组提出的自适应传播因子叠层成像方法及局域轨道干涉法，可将显微成像的极限分辨率推进到14 pm。此外，于教授还介绍了原子分辨层析成像的一些进展。

于荣教授报告现场

报告后，与会师生就报告内容中技术应用场景、技术具体功能实现等相关问题与于荣教授进行了问答讨论。报告结束前，于荣教授还分享了博士、硕士研究生培养教育的一些经验，希望大家能够快乐科研，注重身体健康。

报告人简介：

于荣： 1996年本科毕业于浙江大学材料系，2002年博士毕业于中国科学院金属研究所，随后在美国劳伦斯伯克利国家实验室和英国剑桥大学从事博士后研究，2008年至今任教于清华大学材料学院。担任北京电子显微镜中心主任，中国电子显微镜学会常务理事，中国晶体学会副理事长等。

长期从事电子显微学与材料微观结构研究。提出并实现了自适应传播因子叠层成像、局域轨道叠层成像、局域轨道三维重构等方法，在原子尺度研究材料的晶体结构与缺陷、电子结构与磁结构，并开展稀土永磁材料研究。